固體介電常數(shù)測(cè)試儀
產(chǎn)品概述
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào) 源輸出口,所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。
◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。
2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測(cè)量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器
Q值測(cè)量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測(cè)量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器:
按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品(選購(gòu)件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu),以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理
本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置,用于顯示被測(cè)材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化,可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作特性
- 平板電容器:極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選極片間距可調(diào)范圍≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測(cè)微桿分辨率:0.001mm
本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置,用于顯示被測(cè)材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化,可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng):
1. 測(cè)試裝置使用結(jié)束后,請(qǐng)及時(shí)關(guān)閉液晶顯示屏的電源,可延長(zhǎng)電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報(bào)警,應(yīng)及時(shí)更換電池保證測(cè)量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。
2.本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備,所以在使用和保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測(cè)試夾具受到碰撞,可以送生產(chǎn)廠家定期檢查,要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo):
- 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過(guò)0.05 mm。
- 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過(guò)0.1mm。
標(biāo)簽:
介電常數(shù)測(cè)試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
材料介電常數(shù)測(cè)試儀
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