介電常數(shù)介質損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
一、介電常數(shù)介質損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項技術：

¤雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 ¤雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 ¤雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。 
¤自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 ¤全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 ¤DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 
gdat高頻Q表的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。 

一、介電常數(shù)介質損耗試驗儀概述
介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；

儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。

 
  主要技術特性  
¤Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ，¤ 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，¤自動換檔或手動換檔  固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  ¤工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  ¤電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  ¤電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  ¤主電容調節(jié)范圍  18 ～ 220pF  ¤主電容調節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  ¤信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  ¤頻率分段 （ 虛擬 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
¤頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介質損耗測試裝置與本公司生產的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質損耗系數(shù)（損耗角正切值）。

BD916介質損耗測試裝置是BD916914的換代產品，它采用了數(shù)顯微測量裝置，因而讀數(shù)方便，數(shù)據(jù)精確。
¤測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。
¤平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
¤BD916介質損耗測試裝置須配用Q表作為調諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。
¤從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。 

BD916介質損耗測試裝置技術特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
1.極片間距可調范圍：≥15mm 2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 4．測微桿分辨率：0.001mm